3D X-Ray[型号:GE]
支持微焦点/纳焦点双模式的工业X射线检测系统,细节分辨率可达 0.2~0.5微米,最大放大倍率超 23000倍,可实现 BGA、焊点、内部结构的高精度 2D/3D 无损检测
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能力项 | 说明 |
检测内容 | BGA空洞、焊接缺陷、裂缝、气泡、金线断裂、通孔填充不良、内部结构异常等,支持2D/3D无损检测 |
核心技术 | 开放式微焦点/纳焦点X射线管,支持2D实时成像与3D CT扫描,配备5轴样品操控系统,可实现多角度检测 |
检测精度 | 细节分辨率可达 <0.2~0.5微米(纳焦点),几何放大倍率最高 2130×,总放大倍率超 23000× |
硬件规格 | 最大电压 160~240kV可选,最大功率 15~20W,最大检测范围 410×410mm,最大工件重量 5~10kg |
软件与操作 | phoenix x |
适用领域 | 半导体封装、PCB组装、汽车电子、航空航天、消费电子、军工及科研检测 |
关键词:
智联科迅
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